中圖儀器CEM3000低真空模式掃描電鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀(guān)尺度形貌觀(guān)測(cè)和分析。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿(mǎn)足用戶(hù)對(duì)多類(lèi)型樣品的觀(guān)測(cè)需求，實(shí)現(xiàn)微觀(guān)的形貌和元素分析等。

此外，該系列電鏡也可通過(guò)加裝各類(lèi)探頭和附件，滿(mǎn)足用戶(hù)的拓展性需求，這使其在材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)、能源等多個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。

產(chǎn)品功能

1.高分辨率，滿(mǎn)足用戶(hù)觀(guān)測(cè)需求；

2.快速抽放氣，縮短等待時(shí)間；

3.高易用性

可快速成像，一鍵成片；

4.多種成像參數(shù)

滿(mǎn)足專(zhuān)業(yè)用戶(hù)的調(diào)節(jié)需求；

5.高抗振防磁性能

強(qiáng)抗干擾能力；

6.可選配低真空模式，保證用戶(hù)能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉(cāng)內(nèi)真空度，進(jìn)而對(duì)不同類(lèi)型的樣品進(jìn)行觀(guān)測(cè)。

7.大樣品倉(cāng)

SEM3000A在保證較小外形尺寸同時(shí)，具有比肩立式電鏡的大倉(cāng)室，從而容納更大尺寸樣品；

8.多探測(cè)器

可實(shí)現(xiàn)四分窗同時(shí)掃描成像。

性能特色

1、緊湊外型

CEM3000低真空模式掃描電鏡整機(jī)經(jīng)過(guò)深入優(yōu)化，在結(jié)構(gòu)方面達(dá)到了優(yōu)尺寸利用率，確保其出色的性能不再受環(huán)境尺寸的制約，無(wú)論是日常的工作桌面、還是狹小空間，CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡總能陪伴用戶(hù)出現(xiàn)在有需要的地方。

2、自動(dòng)調(diào)節(jié)

用戶(hù)可借助自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

3、高分辨率

CEM3000系列電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像，能夠滿(mǎn)足納米尺度的形貌觀(guān)測(cè)需求。

4、高抗振防磁性能

該系列臺(tái)式電鏡采用特殊設(shè)計(jì)的隔振措施，能夠減小環(huán)境中振動(dòng)對(duì)電鏡的干擾，并且全系列電鏡具有強(qiáng)抗電磁干擾性能，消除場(chǎng)地因素對(duì)電鏡的影響。

其中CEM3000B更是采用本公司設(shè)計(jì)的高性能復(fù)合抗振系統(tǒng)來(lái)消除外界振動(dòng)對(duì)電鏡的影響，即使是在高放大倍數(shù)下成像，用戶(hù)也不用擔(dān)心環(huán)境振動(dòng)對(duì)電鏡產(chǎn)生的干擾。

5、選配低真空系統(tǒng)

根據(jù)用戶(hù)需求，可選配低真空系統(tǒng)。該系統(tǒng)讓用戶(hù)可以任意設(shè)定電鏡工作時(shí)的倉(cāng)內(nèi)真空度(倉(cāng)內(nèi)真空度低可達(dá)100Pa)，以滿(mǎn)足不同類(lèi)型樣品的觀(guān)測(cè)需求。

6、操縱手柄

操作手柄上集成了多個(gè)方向位移控制，自動(dòng)調(diào)整及自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)消像散等功能，可快速完成觀(guān)測(cè)位置調(diào)整及自動(dòng)成像。

7、豐富的定制功能

根據(jù)特定行業(yè)的需求，定制了自動(dòng)化的顆粒度統(tǒng)計(jì)、孔隙率測(cè)量等選配功能。

可根據(jù)用戶(hù)需求提供全自動(dòng)軟件定制服務(wù)。

8、高精度樣品臺(tái)

該系列臺(tái)式電鏡采用全新設(shè)計(jì)的樣品臺(tái)，各自動(dòng)軸均保證了動(dòng)作精度和高重復(fù)性。

9、高襯度成像系統(tǒng)

采集系統(tǒng)具有高信噪比，使用戶(hù)在快速掃描時(shí)也能獲取到充足的信號(hào)。即使針對(duì)微弱信號(hào)，CEM3000系列臺(tái)式電鏡搭載的處理算法亦可將信號(hào)從背底中進(jìn)行高效剝離，確保成像質(zhì)量。

機(jī)型選擇

CEM3000A（大樣品倉(cāng)型）：70mm×70mm樣品倉(cāng)，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專(zhuān)為振動(dòng)環(huán)境設(shè)計(jì)，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定。

應(yīng)用場(chǎng)景

材料科學(xué)：納米材料（如60nm銀線(xiàn)）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析。

新能源：太陽(yáng)能電池板缺陷檢測(cè)、涂層性能評(píng)估。

生物醫(yī)療：微流控芯片表面形貌觀(guān)測(cè)、藥物載體研究。

工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測(cè)。

部分技術(shù)指標(biāo)

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