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      白光光學(xué)干涉儀品牌

      簡要描述:中圖儀器SuperViewW1白光光學(xué)干涉儀品牌采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計,可實現(xiàn)高測量精度重復(fù)性和高粗糙度RMS重復(fù)性。采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測量系統(tǒng),保證測量精度高.

      • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
      • 更新時間:2025-03-08
      • 訪  問  量:828

      詳細介紹

      品牌中圖儀器產(chǎn)地國產(chǎn)
      加工定制

      中圖儀器SuperViewW1白光光學(xué)干涉儀品牌采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計,可實現(xiàn)高測量精度重復(fù)性和高粗糙度RMS重復(fù)性。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學(xué)檢測儀器。

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      SuperViewW1白光光學(xué)干涉儀品牌可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準共計300余種2D、3D參數(shù)作為評價標(biāo)準。


      性能特色

      1、高精度、高重復(fù)性

      1)采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測量系統(tǒng),保證測量精度高;

      2)隔振系統(tǒng),能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動,消除地面振動噪聲和空氣中聲波振動噪聲,保障儀器在大部分的生產(chǎn)車間環(huán)境中能穩(wěn)定使用,獲得高測量重復(fù)性;

      2、環(huán)境噪聲檢測功能

      具備的環(huán)境噪聲檢測模塊能夠定量評估出外界環(huán)境對儀器掃描軸的震動干擾,在設(shè)備調(diào)試、日常監(jiān)測、故障排查中能夠提供定量的環(huán)境噪聲數(shù)據(jù)作為支撐。

      3、精密操縱手柄

      集成X、Y、Z三個方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。

      4、雙重防撞保護措施

      在初級的軟件ZSTOP設(shè)置Z向位移下限位進行防撞保護外,另在Z軸上設(shè)計有機械電子傳感器,當(dāng)鏡頭觸碰到樣品表面時,儀器自動進入緊急停止?fàn)顟B(tài),最大限度的保護儀器,降低人為操作風(fēng)險。

      5、雙通道氣浮隔振系統(tǒng)

      既可以接入客戶現(xiàn)場的穩(wěn)定氣源也可以接入標(biāo)配空壓機,在無外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作。

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      應(yīng)用領(lǐng)域

      可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中,對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

      應(yīng)用范例:

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      SuperViewW1白光干涉儀品牌讓輪廓測量價格變實惠,適用于各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、孔隙間隙、磨損情況、腐蝕情況、波紋度、臺階高度、表面缺陷、面形輪廓、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。


      部分技術(shù)指標(biāo)

      型號

      W1

      光源白光LED
      影像系統(tǒng)1024×1024
      干涉物鏡

      標(biāo)配:10×

      選配:2.5×、5×、20×、50×、100×

      光學(xué)ZOOM

      標(biāo)配:0.5×

      選配:0.375×、0.75×、1×

      標(biāo)準視場0.98×0.98㎜(10×物鏡,光學(xué)ZOOM 0.5×)


      XY位移平臺

      尺寸
      320×200㎜
      移動范圍140×100㎜
      負載10kg
      控制方式電動
      Z軸聚焦行程100㎜
      控制方式電動
      臺階測量
      可測樣品反射率0.05%~100%
      主機尺寸700×606×920㎜


      如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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